Curso Presencial: Conceitos Estatísticos: Fundamentos do CEP e MSA Básico - CIESP Jundiai

Curso Presencial: Conceitos Estatísticos: Fundamentos do CEP e MSA Básico

CIESP Jundiaí

DIAS: 23, 24 e 25 de Setembro
HORÁRIO: 18h às 22h

INVESTIMENTO:
RS 360,00 (associados ao CIESP)
R$ 684,00 (não associados ao CIESP)

Para empresas:
Acima de 3 inscrições: 5% de desconto.
Acima de 10 inscrições: 10% de desconto.

 

INSCREVA-SE AQUI

 

CARGA HORÁRIA: 12h

OBJETIVO: Capacitar os participantes a entender e aplicar ferramentas estatísticas para monitorar e controlar processos produtivos e garantir a precisão dos sistemas de medição. Compreender o Controle Estatístico de Processos (CEP), Introduzir a Análise do Sistema de Medição (MSA), Desenvolver habilidades para interpretar gráficos de controle. Incentivar o uso de CEP e MSA como ferramentas fundamentais em programas de melhoria contínua, como Kaizen, Six Sigma, e Lean Manufacturing, Ensinando como CEP e MSA se alinham aos requisitos de normas de qualidade, como a ISO 9001, IATF 16949, entre outras.

PÚBLICO ALVO:  Engenheiros, Técnicos, Analistas, Auditores e Operadores que estão diretamente envolvidos na estruturação, validação e manutenção de programas da qualidade.

PRÉ REQUISITO: Nenhum

INSTRUTOR: André Spiandorello

MINI-CURRÍCULO:
Com 30 anos de experiência na área da Qualidade, trabalhou na gestão de empresas nacionais e multinacionais nos seguimentos de autopeças, eletro-eletrônicos, linha branca, alimentício e energia, com experiência em processos de Forjaria, Laminação a Quente e a Frio, Usinagem, Extrusão, Estamparia, Galvanoplastia, Tratamento Térmico, Montagens e Injeção Plástica. Auditor Líder certificado pela RAB e AIAG para ISO 9001:2015 e IATF 16949:2016. Auditor PBQP-H (Programa Brasileiro de Qualidade e Produtividade Habitacional), Black Belt Six sigma, coordenou diversos processos de certificação dentre eles, ISO 9001, QS 9000, ISO/TS 16949 e IATF 16949:2016. Mestrando em Inovação Tecnológica pela UNIFESP.

CONTEÚDO PROGRAMÁTICO:

  1. Conceitos de Variabilidade do Processo;
  2. Causas Comuns e Causas Especiais;
  3. Curva normal ou do sino.
  4. Melhoria da qualidade através do uso da estatística
  5. Metodologia para implantação e uso de técnicas estatísticas;
  6. Métodos de Avaliação dos Sistemas de Medição

– Estudo de R&R
– Linearidade
– Estabilidade
– Tendência
– Exercícios Práticos

7.Tipos de gráficos de controle
8.Análise de Cartas de Controle
– Exercícios Práticos

9.Estudo de capabilidade (Cp, Cpk , Pp , Ppk)
– Exercícios Práticos

10.Requisitos IATF 16949:2016

 

  • A confirmação do curso dependerá do número mínimo de participantes inscritos.
  • Sujeito a alterações